Высокопроизводительный полностью автоматизированный нано-лазерный анализатор частиц с сухой и жидкостной системами

2.1. Световой путь системы полностью закрыт, защищен от пыли и может предотвратить световое загрязнение. 2.2. Световой путь использует структуру обратного преобразования Фурье с линзой. Максимальный угол приема не ограничен диаметром линзы. Задний детектор может расширить нижний предел измерения до 0,1 мкм. 2.3. Световой источник использует импортный лазерный излучатель He - Ne, который имеет лучшую монохроматичность, высокую когерентность, малый угол расходимости и лучшую стабильность по сравнению с другими лазерными излучателями. 2.4. Для лазерного излучателя, помимо традиционного контроля значения выходной мощности, мы добавили тест на стабильность выходной мощности. Мы также используем патентную конструкцию интегрированного лазерного излучателя (патент №: 00228952.0), которая уменьшает тепловое искажение лазерной трубки и внешние механические вибрации. 2.5. Технология сглаживания используется для уменьшения влияния флуктуаций мощности лазерного излучателя на измерения. 2.6. Технологии стабилизации напряжения и ограничения тока, а также заполнения уменьшают вероятность вспышек лазерного излучателя до крайне низкого уровня. 2.7. Пространственный фильтр закреплен сверхтравым магнитом, чтобы защитить отверстие от смещения, что значительно повышает стабильность светового пути. Новая конструкция эффективно устраняет дифракционные кольца лазера. Данные о световой энергии будут более точными, что лучше подходит для измерения крупных частиц. 2.8. Автоматическое устройство выравнивания может быстро обеспечить более точное выравнивание, что помогает продлить его срок службы. Точность выравнивания может достигать 0,5 мкм. 2.9. Массив детекторов использует уникальную систему обнаружения рассеянного света по поверхности сферы (DAS) (патент №: 95223756.3). Детекторы больших углов размещены на поверхности сферы, чтобы получить точный фокус рассеянного света больших углов. нано-лазерного анализатора размеров частиц 3.1. Используя одновременную выборку по 8 каналам для выборки 16-разрядного АЦП, частота выборки кадровых данных может достигать 1 кГц. 3.2. Используя технологию одновременной выборки по 64 каналам и переключатель выборки и удержания с ультранизким током утечки, точность по полному диапазону может достигать 0,15%. 3.3. Доступно обновление прошивки и настройка данных, что делает обслуживание и эксплуатацию более удобными. 3.4. Высококачественные компоненты, более низкая частота отказов. 3.5. Функция компенсации электрического фона, которая помогает получить более точные данные об оптической энергии. 4. Дружелюбные и практичные функции программного обеспечения: 4.1. Функция стандартной операционной процедуры (SOP), которая стандартизирует процесс анализа и тестирования. 4.2. Программное обеспечение может отображать в реальном времени и регулировать состояние автоматического питателя образцов. 4.3. Программное обеспечение имеет функцию интеллектуального определения выравнивания, экономит время и эффективно. 4.4. Интеллектуальное распознавание статуса выборки. 4.5. Несколько моделей распределения: общий режим, усиленный режим, одиночный режим 4.6. Несколько моделей отчетов: отчеты общего назначения, ситового анализа, процентного состава, средних значений, статистических данных и аппроксимации. 4.7. Пункты отчета могут быть изменены в соответствии с требованиями разных отраслей. 4.8. Отчеты могут быть экспортированы в формате PDF, Excel или других текстовых файлов 4.9. Можно открыть несколько отчетов одновременно, что облегчает сравнение между отчетами 4.10. Полная, открытая база данных образцов материалов, содержит более 200 видов параметров часто используемых материалов. Пользователи могут самостоятельно определять параметры показателя преломления, включая действительную и мнимую части (соответствующие поглощению образца).